扫描电镜测试室
该实验室为科研实验室，主要有扫描电镜仪，面向对象为研究生，科研教师及校企合作人员。扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, 简称SEM)是一种电子显微镜，介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜作为现代科研中不可或缺的工具，广泛应用于材料学、物理学、生物学、地矿学、考古学等多个领域。
X-射线分析室
该实验室为科研实验室，主要有X-射线多晶粉末衍射仪，面向对象为研究生，科研教师及校企合作人员。
X射线光源 Cu靶，陶瓷基复合光管，电压20~60kV，电流2~60mA ；测角仪精度高，角度重现性达±0.0001o，最小步长为0.0001o， 2θ扫描范围：-3°~162°，常规2θ扫描可从0.3°开始扫描；工作模式为θ/θ模式，可联动或单独驱动，垂直方式；测角仪半径不少于285mm; 最大定位角度： 1000°/分；光学系统：所有光路系统可程序自动调节；双探测器系统；原位高温附件，温度范围：室温~1500℃。
仪器主要应用在样品的物相分析（定性分析）晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布物相定量分析薄膜物相鉴定，薄膜高温分析测量纤维或高分子样品的物相、取向度等织构分析应力分析。适用于有机无机等各类固体材料。
荧光光谱分析室
该实验室为科研实验室，主要有紫外可见分光光度计等设备，面向研究生、科研教师及校企合作人员。
光源为脉冲氙灯，全波长覆盖190-1100nm；能直接测定低温或高温（4℃～110℃）样品，可测量固体、粉末或凝胶类样品；双光路系统，C-T型光路系统；波长精度：≤±0.15nm；波长重复性：≤±0.05nm；配置有光纤探头、多池支架附件；
紫外可见分光光度计可作定量分析（最主要的应用）、纯度分析、参与结构分析（结构简单的样品可直接作结构分析）；参与定性分析（结构简单的样品可直接作定性分析）；广泛用于制药、食品、农业、化学化工、计量等行业中的产品质量控制，各级药检系统的产品质量检测等。
